低頻絕緣材料介電常數及介質損耗測試儀報價低頻絕緣材料介電常數及介質損耗測試儀報價

頻率范圍20HZ-1MHZ,含測試夾具一個 型號:M370105庫號：M370105 

一 概述M370105是具有多|種功能和＞測試頻率的阻抗分析儀.本系列儀器基本精度為0.05%, 測試頻率1MHz及10mHz的分辨率, 4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面.集成了變壓器測試功能,平衡測試功能. 儀器提供了接口,能滿足自|動分選測試, 數據傳輸和保|存的各種要求.

二 性能特點

◎ 全自|動一鍵操作可自動掃描平穩的量程階段

◎ 微電腦處理器反應迅速可在短時間內計算出頻段

◎ 夾具數字顯示

◎ 4.3寸TFT液晶顯示

◎ 中英文可選操作界面

◎ 測試頻率≤1MHz， 10mHz分辨率

◎ 平衡測試功能

◎ 變壓器參數測試功能

◎ 測試速度:≤13ms/次

◎ 電壓或電流的自|動電平調整（ALC） 功能

◎ V、 I 測試信號電平監|視功能

◎ 內部自|帶直流偏置源

◎ 可外接大電流直流偏置源

◎ 10點列表掃描測試功能

◎ 30Ω 、 50Ω 、 100Ω 可選內阻◎ 內建比較器， 10檔分選和計|數功能

◎ 內部文件存儲和外部U盤文件保|存

◎ 測量數據可直接保|存到U盤

◎ RS232C、 USB 、 LAN、 HANDLER、 GPIB、 DCI 接口

◎ 高頻阻抗分析儀電容值 Cp 分辨率 0.00001pF 和 6 位 D 值顯示， 保|證了ε 和 D值精度和重復性

◎ 介電常數測量范圍可達 1～105

三 主要技術指標：

1 M370105主機參數

ε 和D性能：

固體絕緣材料測試頻率20Hz～1MHz的ε 和D變化的測試。

ε 和D測量范圍： ε ： 1～105， D： 0.1～0.00005，

ε 和D測量精度（10kHz） ： ε ： ±2% ， D： ±5%±0.0001。

測試參數 :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ ,DCR

測試頻率 :20Hz～1MHz,10mHz步進

測試信號電平:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV），f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗:10Ω , 30Ω , 50Ω , 100Ω

基本準確度 ;0.1%

顯圍 :

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C :0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D :0.0001 ～ 9.9999

Q :0.0001 ～ 99999

θ :-179.99° ～ 179.99°

測量速度 ;快速: 200次/s（f﹥ 30kHz） ,100次/s（f﹥ 1kHz）

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準功能 :開路 / 短路點頻、 掃頻清零， 負載校準

等|效方式 :串聯方式, 并聯方式

量程方式:自|動, 保持

顯示方式 :直讀, Δ , Δ %

觸發方式 :內部, 手動, 外部, 總線

內部直流偏 :電壓模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 :電流模式（內阻為50Ω ） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能:10檔分選及計|數功能

顯示器;4.3寸LCD顯示

存儲器 :可保存20組儀器設定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（選件）

工作頻率范圍： 20Hz～1MHz 數字合成，

精度： ±0.02%

電容測量范圍： 0.00001pF～9.99999F 六位數顯

電容測量基本誤差是： ±0.05%

損耗因素D值范圍： 0.00001～9.99999 六位數顯

介電常數測試裝置（含保|護電極） ： 介電常數測試裝置提供測試電極， 能

對直徑φ 6～50mm， 厚度<14mm的試樣測量。

它針對不同試樣可設置為接觸電極法， 薄膜電極法和非接觸法三種， 以適應軟材

料， 表面不平整和薄膜試樣測試。

微分頭分辨率： 10μ m

耐壓： ±42Vp（AC+DC）

電纜長度設置： 1m

使用頻率：≤ 1MHz

2 S916（數顯）介電常數εr和介質損耗因數tanδ測試裝置：

固體：材料測量直徑Φ38mm；厚度可調 ≥ 15mm

液體：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm（選配）

四 M370105/ZX283806低頻介電常數及介質蒜損耗測試系統主要測試材料

絕緣導熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等

高頻介質樣品（選購件）： 在現行高頻介質材料檢定系統中， 檢定部門為高頻介質損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質樣品。 該樣品由石英玻璃， 聚四氟乙烯等材料做成Φ 38mm， 厚 1～2mm 測試樣品。 用戶可按需訂購， 以保證測試裝置的重復性和準確性